我用BIM_CC254xF256.hex和自己编译的OAD imageA.hex合并成一个HEX文件后用ALL-100烧录器对CC2541F256进行批量烧录，结果有超过40%的IC烧录后不能正常开机。有以下现象：
- 上电后DD/DC/SSN/SCK等端口全为2v（正常情况下应该均为0v）。
- 发现问题后发现在不开机的IC中有20%是不能读取flash的，而另外80%读取存为hex文件后用ALL-100软件与我自己合成的hex文件对比是一致的（buffer checksum 相同）。
- 可以读取的IC是可以用GangPro-cc programmer读取IEEE address的。
- 再用GangPro-cc programmer读取故障IC的flash存为hex文件，用此hex文件再次用GangPro-cc programmer烧录到这个IC后，IC可以正常开
- 用CC debugger读取故障IC的flash存为hex文件，用此hex文件再次用CC debugger烧录到这个IC后，IC可以正常开机
现在的问题在于，如果是文件问题，为什么有一半的IC是可以正常工作的？如果是烧录器问题，能够读取的flash又是和原始烧录文件内容是完全一致的。观察到的现象是，只要是擦除flash重新烧录，IC就恢复正常了。不知道原因。
现在不清楚的是，不能读取的那些IC是否能够重新烧录。
大家有什么解决方法或者建议么？谢谢！